軟片的基線和厚度測量
軟片的基線和厚度測量
應(yīng)用范圍：測量隱形眼鏡的基準(zhǔn)曲線和厚度
技術(shù)背景：
在20世紀(jì)70年代，我們開發(fā)出了檢測隱形眼鏡的超聲波測厚儀，采用超聲波測厚儀可以測量用于基準(zhǔn)曲線計算的隱形眼鏡的矢量高度，以及鏡片的厚度，不會出現(xiàn)采用其他技術(shù)會使鏡頭產(chǎn)生物理失真的錯誤，超聲波測量速度快，可持續(xù)進行，性能可靠，而且不用操作人員進行任何解釋說明，的38DLP型測厚儀加載了特殊的軟件，結(jié)合基準(zhǔn)曲線的計算，可以同時測量矢量高度和厚度。
使用設(shè)備：
測厚儀：38DLP型
探頭：M316-SU F=0.75（20MHZ，0.125in元直徑）
夾具：B-200型隱形眼鏡夾具或同等設(shè)備
注意：也可以使用35型或35DL型矢測厚儀來測量矢量高度或鏡片厚度，但這些儀器一次只能進行一種類型的測量，并且不會自動計算基準(zhǔn)曲線。
更新時間：2013-12-09 
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